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幾何量公差與檢測
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甘永立
幾何量公差與檢測
Record Type:
Language materials, printed : monographic
Author:
甘永立
Place of Publication:
上海
Published:
上海科學技術出版社;
Year of Publication:
2004
Subject:
機械元件 - 互換性 -
Online resource:
http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=ISBN7%2d5323%2d7462%2d9
Summary:
該書共12章，分別講述了幾何量測量基礎，孔、軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合等內容。
ISBN:
7532374629
幾何量公差與檢測
甘永立
幾何量公差與檢測
/ 甘永立主編 - 上海 : 上海科學技術出版社, 2004.
ISBN 7532374629
機械元件 -- 互換性
幾何量公差與檢測
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該書共12章，分別講述了幾何量測量基礎，孔、軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合等內容。
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