語系/ Language:
繁體中文
English
KMU OLIS
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
SoC設計與測試
~
拉伊休曼
SoC設計與測試
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
拉伊休曼
出版地:
北京
出版者:
北京航空航天大學出版社;
出版年:
2003
標題:
集成電路 - 芯片 -
標題:
集成電路 - 芯片 -
電子資源:
http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=ISBN7%2d81077%2d308%2d9
ISBN:
7810773089
SoC設計與測試
拉伊休曼
SoC設計與測試
/ (美) 拉伊休曼著 - 北京 : 北京航空航天大學出版社, 2003.
ISBN 7810773089
集成電路集成電路 -- 芯片 -- 芯片
SoC設計與測試
LDR
:00659nam0 2200205 i 450
001
108639
003
2110200 3306942
005
20220920174458.0
009
0306942
010
0
$a
7810773089
$d
CNY8.75
100
$a
20091214d2003 em y0chiy0121 e
101
1
$a
chi
$c
eng
102
$a
cn
200
1
$a
SoC設計與測試
$f
(美) 拉伊休曼著
204
0
$a
電子資源
210
$a
北京
$d
2003
$c
北京航空航天大學出版社
337
$a
需要下載並安裝APABI Reader軟件閱讀電子圖書
606
$a
集成電路
$x
芯片
$x
設計
$3
128942
606
$a
集成電路
$x
芯片
$x
測試
$3
128943
687
$2
80000
$3
5091
$a
TN402
$v
4
700
1
$a
拉伊休曼
$g
(Rajsuman, Rochit)
$3
128941
801
0
$a
CN
$b
方正APABI
$c
20080324
856
4
$u
http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=ISBN7%2d81077%2d308%2d9
$z
點擊此處查看電子書
997
$a
ISBN7-81077-308-9
筆 0 讀者評論
多媒體
評論
新增評論
分享你的心得，請勿在此評論區張貼涉及人身攻擊、情緒謾罵、或內容涉及非法的不當言論，館方有權利刪除任何違反評論規則之發言，情節嚴重者一律停權，以維護所有讀者的自由言論空間。
Export
取書館別
處理中
...
變更密碼
登入