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X射線衍射分析原理與應用

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劉平安

X射線衍射分析原理與應用

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	劉粵惠
合作者:	劉平安
出版地:	北京
出版者:	化學工業出版社;
出版年:	2003
標題:	X射線衍射分析 -
電子資源:	http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=ISBN7%2d5025%2d4830%2d0
摘要註:	由於X射線衍射分析方法具有用量少、對樣品的非破壞性、大面積的平均性、對結構和缺陷的靈敏性等特性，使得X射線衍射分析方法的應用範圍不斷拓展，廣泛應用於物理學、化學、分子物理學、醫學、藥學、金屬學、材料學、高分子科學、工程技術學、地質學、礦物學等學科領域。
ISBN:	7502548300

X射線衍射分析原理與應用
劉粵惠

X射線衍射分析原理與應用 / 劉粵惠, 劉平安編著 - 北京 : 化學工業出版社, 2003.
ISBN 7502548300
X射線衍射分析

劉平安

X射線衍射分析原理與應用
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330 $a 由於X射線衍射分析方法具有用量少、對樣品的非破壞性、大面積的平均性、對結構和缺陷的靈敏性等特性，使得X射線衍射分析方法的應用範圍不斷拓展，廣泛應用於物理學、化學、分子物理學、醫學、藥學、金屬學、材料學、高分子科學、工程技術學、地質學、礦物學等學科領域。
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