| 摘要註: |
本書比較系統地介紹了Si分子束外延和Si-Ge／Si低維量子體系研究工作的發展和一些新進展, 並根據當前國際上的發展趨勢, 圍繞復旦大學應用表面物理國家重點實驗室過去十多年來所取得的各項研究成果, 對Si分子束外延和Si-Ge／Si低維量子體系的材料生長, 表徵, 物理特性研究和器件應用等方面作了比較完整的介紹. 本書可作為半導體物理, 材料測試及器件制備等相關領域的研究人員及研究生的參考書. 特別對於希望從事Si-Ge／Si材料, 物理和器件研究的科學工作者, 本書可作為一本入門的參考資料. |