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Intelligent testing with the WISC-III/
~
Kaufman, Alan S.
Intelligent testing with the WISC-III/
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Intelligent testing with the WISC-III// Alan S. Kaufman
作者:
Kaufman, Alan S.
出版者:
New York:John Wiley & Sons, : c1994.,
面頁冊數:
xxii,458p.;25 cm.;
叢書名:
Wiley series on personality processes
標題:
WECHSLER INTELLIGENCE SCALE FOR CHILDREN. -
ISBN:
0-471-57845-2(hard)
Intelligent testing with the WISC-III/
Kaufman, Alan S.
Intelligent testing with the WISC-III/
Alan S. Kaufman - New York:John Wiley & Sons,c1994. - xxii,458p.;25 cm. - Wiley series on personality processes.
Includes bibliographical references and indexes.
ISBN: 0-471-57845-2(hard)buySubjects--Topical Terms:
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WECHSLER INTELLIGENCE SCALE FOR CHILDREN.
Intelligent testing with the WISC-III/
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到館: 1997/04/17
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編目: 1997/04/17
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全部
後棟3F下架區(閉架圖書,請填尋書單調閱) Closed Stacks (Rear Building)
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10119922
後棟3F下架區(閉架圖書,請填尋書單調閱) Closed Stacks (Rear Building)
一般圖書
一般圖書 (Book)
179.2 K21
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