高雄醫學大學圖書館 |

語系/ Language: 繁體中文

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析

~

趙永翔

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	趙永翔
出版地:	成都
出版者:	西南交通大學出版社;
出版年:	2006
標題:	低周率運行 -
電子資源:	http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=m%2e20061222%2dm006%2dw006%2d092
摘要註:	本書研究了低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析方法，闡明了疲勞短裂紋群體交互作用與損傷演化的機制，揭示了疲勞性能存在隨機性及演化性的本質原因。
ISBN:	7811042150

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析
趙永翔

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析 / 趙永翔著 - 成都 : 西南交通大學出版社, 2006.
ISBN 7811042150
低周率運行

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析
LDR:00911nam0 2200217 i 450 001 95699
003 2110200 3303769
005 20220920170659.0
009 0303769
010 0 $a 7811042150 $d CNY12.67
100 $a 20091214d2006 em y0chiy0121 e
101 0 $a chi
102 $a cn
200 1 $a 低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析 $f 趙永翔著
204 0 $a 電子資源
210 $a 成都 $d 2006 $c 西南交通大學出版社
330 $a 本書研究了低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析方法，闡明了疲勞短裂紋群體交互作用與損傷演化的機制，揭示了疲勞性能存在隨機性及演化性的本質原因。
337 $a 需要下載並安裝APABI Reader軟件閱讀電子圖書
606 $a 低周率運行 $3 111152
687 $3 5544 $2 80000 $a O346.2 $v 4
700 1 $a 趙永翔 $3 111151
801 0 $a CN $b 方正APABI $c 20080324
856 4 $u http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=m%2e20061222%2dm006%2dw006%2d092 $z 點擊此處查看電子書
997 $a m.20061222-m006-w006-092

筆 0 讀者評論

多媒體

評論

新增評論分享你的心得，請勿在此評論區張貼涉及人身攻擊、情緒謾罵、或內容涉及非法的不當言論，館方有權利刪除任何違反評論規則之發言，情節嚴重者一律停權，以維護所有讀者的自由言論空間。

Export

取書館別

變更密碼

登入