| Record Type: |
Language materials, printed
: monographic
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| Author: |
雷紹充 |
| Alternative Intellectual Responsibility: |
邵志標 |
| Alternative Intellectual Responsibility: |
梁峰 |
| Place of Publication: |
北京 |
| Published: |
電子工業出版社; |
| Year of Publication: |
2005 |
| Subject: |
超大規模集成電路 - |
| Online resource: |
http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=m%2e20060926%2dm005%2dw009%2d011 |
| Summary: |
本書主要內容為電路測試、分析的基本概念和理論，數字電路的描述和模擬方法，組合電路和時序電路的測試生成方法，專用可測性設計，掃描和邊界掃描理論，IDDQ測試，隨機和偽隨機測試原理，各種測試生成電路結構及其生成序列之間的關係，與M序列相關的其他測試生成方法，內建自測試原理，各種數據壓縮結構和壓縮關係，專用電路Memory和SoC等的可測性設計方法。 |
| ISBN: |
7121003791 |